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簡要描述:環(huán)境試驗(yàn)箱配件表水杯:水杯(恒溫恒濕箱)適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn);是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備;特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗(yàn)。
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所屬分類:環(huán)境試驗(yàn)箱專用配件表
產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-18
環(huán)境試驗(yàn)箱配件表水杯
結(jié)構(gòu)特點(diǎn):
1.箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。
2.內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼(SUS304)鏡面板,外箱采用(SUS304)拉絲不銹鋼板或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
3.設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
4.箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號(hào)線使用。
5.保溫材質(zhì)采用度玻璃纖維棉,厚度為80~100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條,以確保測試區(qū)的密封。
6.設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng),超過限制溫度及自動(dòng)中斷運(yùn)行,保證試驗(yàn)安全進(jìn)行不發(fā)生意外。
7.補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部,并有缺水自動(dòng)保護(hù),更便利操作者補(bǔ)充水源。
8.加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開,可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障,提高安全性。
9.水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)采用門式開啟,方便維護(hù)和檢修。
10.試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。
控制器:
環(huán)境試驗(yàn)箱配件表水杯
六、運(yùn)行控制系統(tǒng):
(一)制冷系統(tǒng):
1.制冷機(jī)采用全封閉法國泰康(或半封閉德國谷輪)壓縮機(jī)。
2.冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式
(二)風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):
1.采用多翼式離心送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
2.風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。
3.采用可上、下、左、右調(diào)整導(dǎo)風(fēng)板,以保證溫、濕度均勻分布。
(三)加濕除濕系統(tǒng):
1.加濕:外置隔離式全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器,通過加熱形成濕蒸氣加濕,通過探頭檢濕度。
2.除濕:采用蒸發(fā)器盤管露點(diǎn)溫度層流接觸除濕方式。
3.供水:隱藏式水箱供水,小水泵自動(dòng)抽水到加濕桶,可回收余水.節(jié)水降耗。
(四)加熱系統(tǒng):
1.鰭片散熱管形鎳鉻合金不銹鋼電加熱器。制冷、循環(huán)、加濕、除濕、加熱系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
七、標(biāo)準(zhǔn)配置:
1.多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套。
2.SUS304不銹鋼試品架2個(gè)。
3.不銹鋼可調(diào)間距試品架軌道2組。
4.測試引線孔(25、50、100mm)1個(gè),附不銹鋼孔蓋一個(gè),硅橡膠塞頭一個(gè)。
5.測試用測試用不織布5片。
6.聯(lián)機(jī)軟件1套,數(shù)據(jù)線1條。
7.保險(xiǎn)絲一套。(易損件)
8.控制器使用說明書一套、設(shè)備操作說明書一套、檢驗(yàn)報(bào)告1份。
九、符合標(biāo)準(zhǔn):
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)