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關(guān)于電子器件實(shí)行可靠性高低溫試驗(yàn)效果

發(fā)布時(shí)間: 2022-04-11  點(diǎn)擊次數(shù): 793次

   可靠性高低溫試驗(yàn)效果增長(zhǎng)試驗(yàn)是一個(gè)反復(fù)完善的過(guò)程,通過(guò)試驗(yàn)產(chǎn)品的可靠性一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)向上增長(zhǎng)??煽啃栽鲩L(zhǎng)試驗(yàn)在研制階段通常有三種方法。

   方法一:試驗(yàn)—問(wèn)題記錄—再試驗(yàn)。這種方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題集中分析進(jìn)行改進(jìn),然后再試驗(yàn)。通過(guò)這種試驗(yàn),可使產(chǎn)品的固有可靠性水平有一個(gè)較大的改進(jìn);

   方法二:試驗(yàn)—改進(jìn)—試驗(yàn)。這種方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過(guò)試驗(yàn)暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理,找出問(wèn)題立即改進(jìn),然后再試驗(yàn),證實(shí)所解決的問(wèn)題,使產(chǎn)品的固有可靠性得到增長(zhǎng)。

   方法三:含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)一改進(jìn)一再試驗(yàn)。這種方法是上述兩種方法的結(jié)合,試驗(yàn)過(guò)程發(fā)現(xiàn)問(wèn)題后,有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即進(jìn)行,有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。經(jīng)全面改進(jìn)后再試驗(yàn)驗(yàn)證,使產(chǎn)品的固有可靠性得到全面的增長(zhǎng)。

 

    本試驗(yàn)主要是用于觀察在規(guī)定時(shí)間內(nèi)恒溫高濕的影響。試驗(yàn)在中進(jìn)行,溫度為40±2℃,相對(duì)濕度為(93±3)%。試驗(yàn)時(shí)間按試品的使用場(chǎng)合及材料性能選定下列時(shí)間中一種:2、4、6、10、21、56(天)。試驗(yàn)絨束后,應(yīng)除去器件外表水汽,在正常大氣條件下恢復(fù)1~2小時(shí)?;謴?fù)期結(jié)束后立即開(kāi)始測(cè)量,并且應(yīng)首先測(cè)量那些對(duì)濕度改變最敏感的參數(shù)。通常在1~24小時(shí)內(nèi)測(cè)量完畢,如果停留時(shí)間太長(zhǎng),進(jìn)入器件的水汽會(huì)基本跑出來(lái),有問(wèn)題的器件就可能被漏過(guò)。

環(huán)境試驗(yàn)

    環(huán)境試驗(yàn)是指模擬產(chǎn)品可能遇到的自然環(huán)境,在這種條件下進(jìn)行試驗(yàn)。以檢驗(yàn)產(chǎn)品適應(yīng)環(huán)境的能力的方法。環(huán)境試驗(yàn)的目的是用盡可能短的時(shí)間再現(xiàn)與實(shí)際環(huán)境產(chǎn)生的相同影響。通過(guò)施加能加速性能退化過(guò)程的應(yīng)力來(lái)模擬元器件的壽命。這些試驗(yàn)在元器件上產(chǎn)生的性能變化應(yīng)盡可能地接近元器件壽命期間觀測(cè)到的影響,它是可靠性試驗(yàn)的重要組成部分之一。

溫度循環(huán)試驗(yàn)

    試驗(yàn)的目的是考驗(yàn)產(chǎn)品在較短時(shí)間內(nèi)對(duì)高溫和低溫的承受能力,以了解是否因?yàn)闊崦浝淇s的應(yīng)力引起內(nèi)部熱匹配性能不好的元器件失效,如材料開(kāi)裂,接觸不良,參數(shù)惡化等。試驗(yàn)在中進(jìn)行。

高溫和低溫狀態(tài)的平衡時(shí)間取30分,室溫過(guò)渡時(shí)間小于1分,這比實(shí)際條件更為嚴(yán)醋,循環(huán)次數(shù)由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定3次或5次。

低溫試驗(yàn)

    試驗(yàn)的且的是考核低溫對(duì)產(chǎn)品的影響,確定產(chǎn)品在低溫條件下工作和貯存的適應(yīng)性。試驗(yàn)在高低溫試驗(yàn)箱中進(jìn)行。試驗(yàn)溫度等級(jí)和試驗(yàn)時(shí)間見(jiàn)表1,各任選其中一種。試驗(yàn)結(jié)束后恢復(fù)時(shí)間為1~2小時(shí)。